詳細摘要： JIMA RT RC-04分辨率測試卡是一種用于設置和測試微焦 X 射線系統的光刻生產的測試模式。它支持 0.1 μm 和 10 μm 之間的分辨率，對應于 0...
產品型號：RT RC-04所在地：深圳市更新時間：2025-08-26 在線留言PLC 工控機 嵌入式系統 人機界面 工業以太網 現場總線 變頻器 機器視覺 DCS PAC/PLMC SCADA 工業軟件 ICS信息安全 應用方案 無線通訊
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詳細摘要： JIMA RT RC-04分辨率測試卡是一種用于設置和測試微焦 X 射線系統的光刻生產的測試模式。它支持 0.1 μm 和 10 μm 之間的分辨率，對應于 0...
產品型號：RT RC-04所在地：深圳市更新時間：2025-08-26 在線留言
詳細摘要： JIMA RT RC-05B是一款采用新半導體光刻技術制作的微型分辨率測試卡。它用于校準和監控系統分辨率，確保微焦點或納米焦點X射線檢測系統獲得高質量的結果。J...
產品型號：RT RC-05B所在地：深圳市更新時間：2025-08-15 在線留言
詳細摘要： 分辨率測試卡,光學成像系統的分辨率指該系統能否分開兩個靠近的點或物體細節的能力，通常以每毫米可以識別的線對數（lp/mm）來表示光學成像系統分辨率的大小。線對由...
產品型號：USAF 1951所在地：深圳市更新時間：2025-08-11 在線留言
詳細摘要： 日本JIMA RT CT-01B CT分辨率測試卡采用半導體工藝技術，采用金 (Au) 吸收材料開發了一種新的 CT 分辨率圖，適用于從 3 微米到 7 微米的...
產品型號：RT CT-01B所在地：深圳市更新時間：2025-08-11 在線留言
詳細摘要： WEK35391-2017空間分辨力測試卡,WEK35391-2017分辨力測試卡每個線對組由4塊規格尺寸相同的薄片平行排列構成（薄片之間用與薄片等厚的金屬隔片...
產品型號：WEK35391-2017所在地：深圳市更新時間：2025-08-11 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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